| Typ des Kontaktors: | solide | Material: | Kupfer |
|---|---|---|---|
| Form: | Rechteckig | Breite: | 2,0 mm |
| Typ: | Isoliert | Zertifikate: | Einheitliche Sicherheitsnormen2008 |
| Produktname: | Hochtemperatur-PEEK-Draht, 2,0 mm, 4,0 mm, 5,0 mm, emaillierter Flachkupferdraht | Dicke: | 1,4 mm |
| Hervorheben: | PEEK-emaillierter Flachkupferdraht,PEEK-Draht für Medizinprodukte,rechteckiger Kupferdraht für medizinische Zwecke |
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PEEK-Draht wird aufgrund seiner außergewöhnlichen Eigenschaften in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt.
Insgesamt wird PEEK-Draht für seine Fähigkeit, unter anspruchsvollen Bedingungen zuverlässig zu arbeiten, geschätzt, was ihn für Hochleistungsanwendungen in mehreren Branchen geeignet macht.
| Nein. | Artikel | Spezifikation | Messdaten (W607010 2A250904) | Messdaten (W607010 2B250904) | Messgeräte |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Kupferbreite | 1.980-2.020 mm | 2.004 | 2.005 | Mirkometer |
| 2 | Kupferdicke | 1.380 bis 1.420 mm | 1.400 | 1.399 | Mirkometer |
| 3 | Gesamtbreite | 2.300-2.360 mm | 2.324 | 2.321 | Mirkometer |
| 4 | Gesamtdicke | 1.700 bis 1.760 mm | 1.732 | 1.731 | Mirkometer |
| 5 | Kupferradius | 0.350-0.450 mm | 0.375 | 0.408 | Mikroskop |
| 6 | Kupferradius | 0.385 | 0.412 | Mikroskop | |
| 7 | Kupferradius | 0.399 | 0.411 | Mikroskop | |
| 8 | Kupferradius | 0.404 | 0.407 | Mikroskop | |
| 9 | Isolationsschichtdicke | 0.145-0.185mm | 0.170 | 0.159 | Mikroskop |
| 10 | Isolationsschichtdicke | 0.162 | 0.155 | Mikroskop | |
| 11 | Isolationsschichtdicke | 0.155 | 0.161 | Mikroskop | |
| 12 | Isolationsschichtdicke | 0.167 | 0.165 | Mikroskop | |
| 13 | Isolationsschichtdicke | 0.152 | 0.155 | Mikroskop | |
| 14 | Isolationsschichtdicke | 0.161 | 0.159 | Mikroskop | |
| 15 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0.145-0.185mm | 0.156 | 0.158 | Mikroskop |
| 16 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0.159 | 0.155 | Mikroskop | |
| 17 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0.154 | 0.159 | Mikroskop | |
| 18 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0.160 | 0.165 | Mikroskop | |
| 19 | Kupfer | T1 | - Ich weiß. | Materialbescheinigung | |
| 20 | Beschichtung/Temperaturgrad | 240°C | - Ich weiß. | Materialbescheinigung | |
| 21 | Verlängerung | ≥ 40% | 46 | 48 | Zugprüfer |
| 22 | Rückenwinkel der Feder | / | 5.186 | 5.098 | Auto-Feder-Rückversuch |
| 23 | Flexibilität | Nach dem Wickeln mit runden Stangen mit einem Durchmesser von Ø2,0 mm und Ø3,0 mm sollte die Isolationsschicht nicht zerbrechen. | - Ich weiß. | - Ich weiß. | Sichtbar |
| 24 | Zusammenschluß | ≤ 3,00 mm | 0.394 | 0.671 | Zugprüfer und Mikroskop |
| 25 | 20°C Leiterwiderstand | ≤ 6,673 Ω/km | 6.350 | 6.360 | Prüfer für den Widerstand des Leiters |
| 26 | BDV | ≥ 12000 V | 22010 | 21170 | Automatischer Spannungsmessgerät |
| 27 | PDIV-Krankheit | ≥ 1300 RMS (25°C,50V/S,50Hz,100Pc) | 1425 | 1429 | PDIV-Tester |
| 28 | Wärmeschlag | Nachdem die Isolationsschicht 30 Minuten lang bei 240°C gebacken wurde, sollte sie keine Risse aufweisen. | - Ich weiß. | Ofen | |
| 29 | Inspektion von Mängeln | Hochspannungsschraube: DC 3000V, 16uA | 0 | 0 | Online-Kontrollsystem |
| 30 | Spule und Gewicht | Probephase:P-30,25±15 kg Masse des Produkts in:PC-630B,160±60 kg | P-30 | P-30 | Sichtbar |