| Typ des Kontaktors: | solide | Material: | Kupfer |
|---|---|---|---|
| Form: | Rechteckig | Breite: | 2,0 mm |
| Typ: | Isoliert | Zertifikate: | Einheitliche Sicherheitsnormen2008 |
| Produktname: | Kundenspezifischer PEEK-Draht, Polyetheretherketon-Isolierung, 2,0 mm, 4,0 mm, 5,0 mm | Dicke: | 1,4 mm |
| Hervorheben: | PEEK-isolierter Kupferdraht,angepasste PEEK-Draht 2,0 mm |
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PEEK-Filament bietet eine außergewöhnliche Hochtemperaturbeständigkeit und behält seine mechanische Integrität bei Temperaturen bis zu 260 °C bei. Es weist eine hohe chemische Beständigkeit gegenüber einer Vielzahl von Säuren und organischen Lösungsmitteln auf und ist sowohl stark als auch abriebfest. Darüber hinaus machen seine hervorragenden elektrischen Isolationseigenschaften über einen weiten Temperaturbereich, das geringe Ausgasen und die robuste Strahlenbeständigkeit es für Umgebungen geeignet, die Strahlung ausgesetzt sind. Seine Biokompatibilität festigt seine Position als Material der Wahl für medizinische Implantate weiter.
| Ref. - | Artikel | Spezifikation | Messdaten | Messausrüstung |
|---|---|---|---|---|
| Nr. | W607010 2A250904 | W607010 2B250904 | ||
| 1 | Kupferbreite | 1,980-2,020 mm | 2,004 | 2,005 | Mikrometer |
| 2 | Kupferdicke | 1,380-1,420 mm | 1,400 | 1,399 | Mikrometer |
| 3 | Gesamtbreite | 2,300-2,360 mm | 2,324 | 2,321 | Mikrometer |
| 4 | Gesamtdicke | 1,700-1,760 mm | 1,732 | 1,731 | Mikrometer |
| 5 | Kupferradius | 0,350-0,450 mm | 0,375 | 0,408 | Mikroskop |
| 6 | Kupferradius | 0,385 | 0,412 | Mikroskop | |
| 7 | Kupferradius | 0,399 | 0,411 | Mikroskop | |
| 8 | Kupferradius | 0,404 | 0,407 | Mikroskop | |
| 9 | Isolationsschichtdicke | 0,145-0,185 mm | 0,170 | 0,159 | Mikroskop |
| 10 | Isolationsschichtdicke | 0,162 | 0,155 | Mikroskop | |
| 11 | Isolationsschichtdicke | 0,155 | 0,161 | Mikroskop | |
| 12 | Isolationsschichtdicke | 0,167 | 0,165 | Mikroskop | |
| 13 | Isolationsschichtdicke | 0,152 | 0,155 | Mikroskop | |
| 14 | Isolationsschichtdicke | 0,161 | 0,159 | Mikroskop | |
| 15 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0,145-0,185 mm | 0,156 | 0,158 | Mikroskop |
| 16 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0,159 | 0,155 | Mikroskop | |
| 17 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0,154 | 0,159 | Mikroskop | |
| 18 | Isolationsschichtdicke des Radius | 0,160 | 0,165 | Mikroskop | |
| 19 | Kupfer | T1 | OK | Materialzertifikat |
| 20 | Beschichtung/Temperaturklasse | 240 °C | OK | Materialzertifikat |
| 21 | Dehnung | ≥40 % | 46 | 48 | Zugprüfgerät |
| 22 | Rückfederungswinkel | / | 5,186 | 5,098 | Automatischer Rückfederungstest |
| 23 | Flexibilität | Nach dem Aufwickeln mit runden Stäben mit einem Durchmesser von Ø 2,0 mm und Ø 3,0 mm sollte es keine Risse in der Isolationsschicht geben. | OK | OK | Visuell |
| 24 | Haftung | ≤3,00 mm | 0,394 | 0,671 | Zugprüfgerät & Mikroskop |
| 25 | 20 °C Leiterwiderstand | ≤6,673 Ω/km | 6,350 | 6,360 | Leiterwiderstandsprüfer |
| 26 | BDV | ≥12000 V | 22010 | 21170 | Automatischer Spannungstester |
| 27 | PDIV | ≥1300 RMS (25 °C, 50 V/S, 50 Hz, 100 Stk.) | 1425 | 1429 | PDIV-Tester |
| 28 | Hitzeschock | Nach dem Backen bei 240 °C für 30 Minuten sollte die Isolationsschicht keine Risse aufweisen. | OK | Ofen |
| 29 | Fehlerprüfung | Hochspannungs-Pinhole: DC 3000 V, 16 uA | 0 | 0 | Online-Inspektionssystem |
| Partikel: Höhe > 0,100 mm muss markiert werden | 0 | 0 | |||
| Verunreinigung: Länge oder Breite ≥ 0,4 mm oder Fläche ≥ 0,16 mm² muss markiert werden | 0 | 2 | |||
| 30 | Spule & Gewicht | Probenphase: P-30, 25 ± 15 kg Massenproduktion: PC-630B, 160 ± 60 kg | P-30 | P-30 | Visuell |